Nearfield Instruments launches 'Lightning Mode' for QUADRA, a faster AFM metrology system for advanced semiconductor devices. Nearfield Instruments lanza el 'Modo Lightning' para QUADRA, un sistema de metrología AFM más rápido para dispositivos semiconductores avanzados.

Nearfield Instruments launches 'Lightning Mode' for QUADRA®, the highest-throughput AFM metrology system for advanced semiconductor devices. Nearfield Instruments lanza el 'Modo Lightning' para QUADRA®, el sistema de metrología AFM de mayor rendimiento para dispositivos semiconductores avanzados. QUADRA is now fully qualified and deployed for high-volume manufacturing, offering 3D non-destructive metrology for memory, logic processes, and high-aspect-ratio structures. QUADRA ahora está completamente calificado e implementado para la fabricación de alto volumen, ofreciendo metrología 3D no destructiva para memoria, procesos lógicos y estructuras de alta relación de aspecto. This innovation accelerates time-to-yield and HVM yield optimization and control. Esta innovación acelera el tiempo de producción y la optimización y el control del rendimiento de HVM.